如何防止晶振出現(xiàn)不良現(xiàn)象，現(xiàn)在介紹嚴(yán)格按照技術(shù)要求的規(guī)定，對(duì)晶振組件進(jìn)行檢漏試驗(yàn)以檢查其密封性，具體如下：

　　1、壓封工序是將調(diào)好的諧振件在保護(hù)中與外殼封裝起來(lái)，以穩(wěn)定石英晶體諧振器的電氣性能。在此工序應(yīng)保持送料倉(cāng)、壓封倉(cāng)和出料倉(cāng)干凈，壓封倉(cāng)要連續(xù)沖，并在壓封過(guò)程中注意焊頭磨損情況及模具位置，電壓、氣壓和流量是否正常，否則及時(shí)處理。其質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)為：無(wú)傷痕、毛刺、頂坑、彎腿，壓印對(duì)稱不可歪斜。

　　2、由于石英晶體是被動(dòng)組件，它是由IC提供適當(dāng)?shù)募?lì)功率而正常工作的，因此，當(dāng)激勵(lì)功率過(guò)低時(shí)，石英晶振不易起振，過(guò)高時(shí)，便形成過(guò)激勵(lì)，使石英芯片破損，引起停振。所以，應(yīng)提供適當(dāng)?shù)募?lì)功率。另外，有功負(fù)載會(huì)消耗一定的功率，從而降低晶體Q值，從而使晶體的穩(wěn)定性下降，容易受周邊有源組件影響，處于不穩(wěn)定狀態(tài)，出現(xiàn)時(shí)振時(shí)不振現(xiàn)象，所以，外加有功負(fù)載時(shí)，應(yīng)匹配一個(gè)比較合適有功負(fù)載。

　　3、控制好剪腳和焊錫工序，并保證基座絕緣性能和引腳質(zhì)量，引腳鍍層光亮均勻無(wú)麻面，無(wú)變形、裂痕、變色、劃傷、污跡及鍍層剝落。為了更好地防止單漏，可以在晶體下加一個(gè)絕緣墊片。

　　4、當(dāng)晶體產(chǎn)生頻率漂移而且超出頻差范圍時(shí)，應(yīng)檢查是否匹配了合適的負(fù)載電容，可以通過(guò)調(diào)節(jié)晶體的負(fù)載電容來(lái)解決。

　　生活水平的提高,人們開(kāi)始注重養(yǎng)生了,這樣才能讓自己的身體更健康；對(duì)于石英晶振來(lái)說(shuō)也是同樣的道理,在使用過(guò)程中把握分寸,在額定環(huán)境下運(yùn)行相當(dāng)重要,這是石英晶振穩(wěn)定起振以及性能發(fā)揮程度的首要條件.就拿工作溫度來(lái)說(shuō)吧；假設(shè)一款石英晶振的額定工作溫度為-30一85°C,但是設(shè)備的工作環(huán)境溫度為-40? 105°C,這樣一來(lái),工作溫度超過(guò)該晶振產(chǎn)品的限制,在這樣的環(huán)境下工作,輕則損傷晶振的性能和使用壽命,重則直接損壞晶振。

　　恒溫晶體振蕩器簡(jiǎn)稱恒溫晶振，英文簡(jiǎn)稱為OCXO(Oven Controlled Crystal Oscillator)。詳解恒溫晶振的調(diào)試：

　　1)每一個(gè)單獨(dú)指標(biāo)必須單獨(dú)測(cè)試，不能同時(shí)測(cè)試幾種指標(biāo)，也不能同時(shí)測(cè)試幾只晶振。

　　2)測(cè)試時(shí)要嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試電路和測(cè)試環(huán)境進(jìn)行測(cè)試。

　　3)在沒(méi)有相當(dāng)?shù)臏y(cè)試設(shè)備和測(cè)試人員的情況下，不建議客戶自行測(cè)試晶振，更不能隨意調(diào)試晶振，測(cè)試設(shè)備的等級(jí)應(yīng)至少比晶振指標(biāo)高一個(gè)數(shù)量級(jí)。

　　4)對(duì)不同廠家的產(chǎn)品，尤其是來(lái)自不同國(guó)家的產(chǎn)品，有一些指標(biāo)的測(cè)試方法不盡相同，應(yīng)提前了解各廠家的異同點(diǎn)，統(tǒng)一意見(jiàn)，以減少不必要的麻煩。

　　5)對(duì)一些短期指標(biāo)如頻率精度，開(kāi)機(jī)特性等，應(yīng)多做幾次重復(fù)的測(cè)試，以減少測(cè)試結(jié)果的偶然性。

　　隨著電視技術(shù)的發(fā)展，近 來(lái) 彩電多采用500kHz或503kHz的晶體振蕩器作為行、場(chǎng)電路的振蕩源，經(jīng)1/3的分頻得到15625Hz的行頻，其穩(wěn)定性和可靠性大為提高。而且晶振價(jià)格便宜，更換容易。