CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來(lái)的 主要用途有:1利用R100mm曲面測(cè)定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度;2利用50和1.5mm圓孔測(cè)定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測(cè)定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測(cè)定探傷 儀水平線性、垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃描速度;

CSK-IA 試塊是我國(guó)承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊

CSK-IA 試塊使用說(shuō)明及測(cè)試方法

水平線性(時(shí)基線性)的檢驗(yàn)

水平線性又稱時(shí)基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測(cè)儀中的不 同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測(cè)儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測(cè)試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對(duì) 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測(cè)試 步驟如下:

(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對(duì)準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示

(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對(duì)準(zhǔn) 2.0，B5 對(duì)準(zhǔn)10.0，如圖 b 所示

(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。

(4)計(jì)算水平誤差:公式

式中，amax——a2，a3，a4 中者 b——示波屏水平滿刻度值

調(diào)整橫波掃描速度和探測(cè)范圍

由于縱波的聲程 91mm 相當(dāng)于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來(lái)調(diào)整橫波的檢測(cè)范圍和掃描速度。例如橫波 1:1，先用直探頭 對(duì)準(zhǔn) 91 底面，是 B1、B2 分別對(duì)準(zhǔn) 50、100，然后換上橫波探頭并對(duì)準(zhǔn) R100 圓弧面，找到高回波，并調(diào)至 100 即可。

測(cè)定儀器與直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力

(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置，左右移動(dòng)探頭， 使顯示屏上出現(xiàn) 85、91、100 三個(gè)反射回波A、B、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。

(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定，直探頭遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力大于等于 20dB。

盲區(qū)的估計(jì)

盲區(qū)是指小的探測(cè)距離，測(cè)試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置，測(cè)量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計(jì)出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間。

穿透能力估計(jì)

將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置，將儀器個(gè)靈敏度旋鈕均置于大， 測(cè)試試塊中有機(jī)玻璃塊反射波次數(shù)和一次反射波高度。以此來(lái)估計(jì) 大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時(shí)間變化的情況。

探測(cè)靈敏度的調(diào)整

根據(jù) AVG 原理，在探頭探傷時(shí)可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射， 以此來(lái)調(diào)整探測(cè)靈敏度。直探頭探傷時(shí)可把厚度為 25/100mm 的幾個(gè)側(cè)面 視為大平底處理，以此來(lái)調(diào)整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測(cè) 量 1.5mm橫通孔反射波來(lái)確定靈敏度。