照明配件測試?yán)錈釠_用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它的理想測試工具
三、控制儀表 愛佩自主研發(fā)的7英寸超大觸摸AP-950可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據(jù)客戶要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點，滿足做測試的不同需求.
四、試樣限制 本試驗設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或
儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。
五、三箱特點 1、三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品靜止于測試區(qū)。采用之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。
2、可獨立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇2箱或3箱之功能并具有高低溫試驗機的功能,相比于2箱沖擊它還可選擇做常溫沖擊。
六、深圳冷熱沖擊環(huán)境倉的設(shè)備容積、尺寸和重量
6.1. 內(nèi)容積 50L
6.2. 內(nèi)箱尺寸 400 *350 *350mm (W* H *D)
6.3.外型尺寸(約) 1350*1900*1650mm (W* H *D)
6.4. 重 量 約900㎏
七、快速高低溫沖擊試驗箱性能指標(biāo)
7.1. 測試環(huán)境條件 機器周圍環(huán)境溫度維持在 25~ 30℃之間，相對濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。
7.2. 滿足標(biāo)準(zhǔn) .GB/T2423.1-2008 低溫試驗方法Test method of low tempemture test
·GB/T2423.2-2008 高溫試驗方法Test method of high temperature test
·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗Test of temperature chantge
·GJB150.5-86溫度沖擊試驗Test of temperature shock
·GJB360.7-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock
·GJB367.2-87溫度沖擊試驗Test of temperature shock
·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.測試室溫度范圍： -40℃～ 150 ℃ (風(fēng)冷式)
7.4. 照明配件測試?yán)錈釠_高溫室
7.4.1. 預(yù)熱溫度范圍 RT～ 165℃
7.4.2. 升溫時間
50℃→ 165℃ ≤30min
注：升溫時間為高溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能
7.5. 低溫室
7.5.1. 預(yù)冷溫度范圍 RT～-55℃
7.5.2. 降溫時間 20℃ → -55℃≤約60min
注：降溫時間為低溫室單獨運轉(zhuǎn)時的性能
7.6. 試驗室（試樣區(qū)）
7.6.1. 試驗方式 采用之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，沖擊時高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測試區(qū)進行沖擊,完成冷熱溫度沖擊測試。
7.6.2. 溫度波動度 ±0.5℃
7.6.3. 溫度偏差 ±2.0℃
7.6.5. 溫度恢復(fù)時間 ≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（風(fēng)門開啟時間：3秒以內(nèi)）
