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- 儀器介紹
近平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜/空氣間隙等物質(zhì)上,其上下表面的反射光干涉而形成的干涉條紋。薄膜/空氣間隙厚度相同的地方形成同條干涉條紋,故稱等厚干涉。本實(shí)驗(yàn)除了研究典型的牛頓環(huán)和楔形平板干涉以外,還研究了一些牛頓環(huán)裝置的變種,如正交柱面鏡等形成的橢圓,雙曲等干涉條紋現(xiàn)象。
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