詳細摘要： 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2024-11-23 在線留言探礦設備 井下采掘 地面采掘 運輸機械 選礦設備 采礦輔助設備 石油開采設備 挖沙機械 其它礦業(yè)設備 其它開采設備
廣州文明機電有限公司
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詳細摘要： 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）...
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詳細摘要： 易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。
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詳細摘要： IB-19520CCP在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢...
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詳細摘要： 為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。
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詳細摘要： 通過高頻感應加熱產(chǎn)生大約1萬度的熱等離子體，經(jīng)過物理/化學反應過程，能合成納米顆粒及厚膜(鍍膜)
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詳細摘要： CRYO ARM? 300 II (JEM-3300) 場發(fā)射冷凍透射電子顯微鏡CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋...
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詳細摘要： 可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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詳細摘要： 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質(zhì)等各個領域，并獲得了的贊譽。研發(fā)的第三代場發(fā)射電子探針JX...
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詳細摘要： JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更的一體化集成FE-EPM...
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詳細摘要： JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。
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詳細摘要： JEOL新一代場發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等的同時，操作性能極大簡單化。該設備不依賴操作者的...
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詳細摘要： JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學控制系統(tǒng)Neo Engine，一個新開發(fā)的操作GUI“SEM Cen...
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詳細摘要： JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡
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詳細摘要： JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方...
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詳細摘要： JEOL InTouchScope?系列的新機型, 采用新開發(fā)的高亮度電子槍和透鏡系統(tǒng)，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設...
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詳細摘要： 日常使用的SEM，好用！ 該設備分辨率1nm、探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設計緊湊、配備大樣品室。
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詳細摘要： JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化...
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詳細摘要： 由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰...
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詳細摘要： JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微...
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詳細摘要： JEOL IDES 產(chǎn)品：飛秒級時間分辨率電子顯微鏡及其相關附屬設備
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2024-11-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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