宏展儀器--環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準目錄
點擊次數(shù)：1271 發(fā)布時間：2010-7-29
宏展儀器--環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準目錄
GB/T 2423.101-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗:傾斜和搖擺
GB/T 2423.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fc：振動（正弦）
GB/T 2423.102-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗:溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合
GB/T 2423.15-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.17-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ka:鹽霧
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗
GB/T 2423.32-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ta:潤濕稱量法可焊性
GB/T 2423.33-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗
GB/T 2423.35-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.36-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/BFc:散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.37-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗L:沙塵試驗
GB/T 2423.38-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗R:水試驗方法和導(dǎo)則
GB/T 2423.39-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Ee:彈跳
GB/T 2423.43-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法振動、沖擊和類似動力學(xué)試驗樣品的安裝
GB/T 2423.27-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
GB/T 2423.28-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗T:錫焊
GB/T 2423.57-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2-81部分:試驗方法試驗Ei:沖擊沖擊響應(yīng)譜合成
GB/T 2423.58-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fi:振動混合模式
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 4796-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件分類第1部分:環(huán)境參數(shù)及其嚴酷程度
GB/T 4798.10-2006 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件導(dǎo)言
GB/T 4798.2-2008 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第2部分:運輸
GB/T 4798.3-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第3部分:有氣候防護場所固定使用
GB/T 4798.4-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第4部分:無氣候防護場所固定使用
GB/T 4798.5-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第5部分:地面車輛使用
GB/T 4798.7-2007 電工電子產(chǎn)品應(yīng)用環(huán)境條件第7部分:攜帶和非固定使用
GB/T 5170.10-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 5170.11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB/T 5170.1-2008
GB/T 5170.13-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用機械振動臺
GB/T 5170.15-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法振動（正弦）試驗用液壓振動臺
GB/T 5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法穩(wěn)態(tài)加速度試驗用離心機
GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備
GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
GB/T 5170.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/振動（正弦）綜合試驗設(shè)備
GB/T 5170.20-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法水試驗設(shè)備
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法溫度試驗設(shè)備
GB/T 5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T 5170.8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T 5170.9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 7141 -2008 塑料熱老化試驗方法
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