CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;

CSK-IA 試塊是我國承壓設備無損檢測標準 NB/T47013 中 規(guī)定的標準試塊

CSK-IA 試塊使用說明及測試方法

水平線性(時基線性)的檢驗

水平線性又稱時基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏時基線上回波的間隔成正比關系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當，并具有兩個相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個回波調整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:

(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對準 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示

(2)調整微調、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對準 2.0，B5 對準10.0，如圖 b 所示

(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。

(4)計算水平誤差:公式

式中，amax——a2，a3，a4 中者 b——示波屏水平滿刻度值

調整橫波掃描速度和探測范圍

由于縱波的聲程 91mm 相當于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來調整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1，先用直探頭 對準 91 底面，是 B1、B2 分別對準 50、100，然后換上橫波探頭并對準 R100 圓弧面，找到回波，并調至 100 即可。

測定儀器與直探頭遠場分辨力

(1)抑制旋鈕調至“0”，探頭置于如圖所示位置，左右移動探頭， 使顯示屏上出現(xiàn) 85、91、100 三個反射回波A、B、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。

(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定，直探頭遠場分辨力大于等于 20dB。

盲區(qū)的估計

盲區(qū)是指最小的探測距離，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置，測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間。

穿透能力估計

將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置，將儀器個靈敏度旋鈕均置于， 測試試塊中有機玻璃塊反射波次數(shù)和次反射波高度。以此來估計穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

探測靈敏度的調整

根據(jù) AVG 原理，在探頭探傷時可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射， 以此來調整探測靈敏度。直探頭探傷時可把厚度為 25/100mm 的幾個側面 視為大平底處理，以此來調整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測 量 1.5mm橫通孔反射波來確定靈敏度。